Уважаемые коллеги!
17 января 2024 года в 15:00 в каб. 17 ГАИШ МГУ пройдет семинар на тему «Результаты PSF-фотометрии».
Будут представлены предварительные результаты использования PSF-фотометрии для обработки кадров NBI. Кроме того, будет представлена программа, реализующая апертурную фотометрию. Программа рассчитана на полностью автоматическую обработку произвольного количества кадров и позволяет учитывать особенности конкретной матрицы (ее характеристики, а также промежутки между чипами, дефекты поверхности).
Докладчик: Антохин И.И.
Запись доклада доступна по ссылке:
https://disk.yandex.ru/i/
Уважаемые коллеги!
17 января 2024 года в 15:00 в каб. 17 ГАИШ МГУ пройдет семинар на тему «Результаты PSF-фотометрии».
Будут представлены предварительные результаты использования PSF-фотометрии для обработки кадров NBI. Кроме того, будет представлена программа, реализующая апертурную фотометрию. Программа рассчитана на полностью автоматическую обработку произвольного количества кадров и позволяет учитывать особенности конкретной матрицы (ее характеристики, а также промежутки между чипами, дефекты поверхности).
Докладчик: Антохин И.И.
Запись доклада доступна по ссылке:
https://disk.yandex.ru/i/
Уважаемые коллеги!
17 января 2024 года в 15:00 в каб. 17 ГАИШ МГУ пройдет семинар на тему «Результаты PSF-фотометрии».
Будут представлены предварительные результаты использования PSF-фотометрии для обработки кадров NBI. Кроме того, будет представлена программа, реализующая апертурную фотометрию. Программа рассчитана на полностью автоматическую обработку произвольного количества кадров и позволяет учитывать особенности конкретной матрицы (ее характеристики, а также промежутки между чипами, дефекты поверхности).
Докладчик: Антохин И.И.
Запись доклада доступна по ссылке:
https://disk.yandex.ru/i/